| Номер ГОСТ | Название ГОСТ |
|
ГОСТ 15114-78
|
Системы телескопические для оптических приборов. Визуальный метод определения предела разрешения |
|
ГОСТ 15856-84
|
Фотоумножители. Общие технические условия |
|
ГОСТ 16208-84
|
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Общие технические условия |
|
ГОСТ 16803-78
|
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные. Термины и определения |
|
ГОСТ 17333-80
|
Приборы фотоэлектронные. Методы измерения спектральной чувствительности фотокатодов |
|
ГОСТ 17490-77
|
Лазеры и излучатели инжекционные, диоды лазерные. Основные параметры |
|
ГОСТ 17772-88
|
Приемники излучения полупроводниковые фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерения фотоэлектрических параметров и определения характеристик |
|
ГОСТ 19319-82
|
Лазеры твердотельные. Основные параметры |
|
ГОСТ 19798-74
|
Фотоэлементы для устройств широкого применения. Общие технические условия |
|
ГОСТ 2.746-68
|
ЕСКД. Обозначения условные графические в схемах. Генераторы и усилители квантовые |
|
ГОСТ 21195-84
|
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные спектральные. Общие технические условия |
|
ГОСТ 21316.0-75
|
Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров |
|
ГОСТ 21316.1-75
|
Фотоэлементы. Метод измерения световой чувствительности |
|
ГОСТ 21316.2-75
|
Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока |
|
ГОСТ 21316.3-75
|
Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции |
|
ГОСТ 21316.4-75
|
Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности |
|
ГОСТ 21316.5-75
|
Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности |
|
ГОСТ 21316.6-75
|
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме |
|
ГОСТ 21316.7-75
|
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме |
|
ГОСТ 22466.0-82
|
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Общие положения при измерении электрических и световых параметров |
![[<<]](/Content/Images/firstArrow.PNG){kind=small}
![[<]](/Content/Images/prevArrow.PNG){kind=small}
![[>]](/Content/Images/nextArrow.PNG){kind=small}
![[>>]](/Content/Images/lastArrow.png){kind=small}