Выполняется просмотр описания - ГОСТ 4.64-80
| Характеристика | Значение |
| Номер ГОСТ | ГОСТ 4.64-80 |
|---|---|
| Наименование | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
| Наименование на англ. яз. | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
| Статус ГОСТ | действующий |
| Дата актуализ. текста | 15.04.2009 |
| Дата актуализ. описания | 01.05.2009 |
| Дата введения | 01.07.1981 |
| Область применения | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
| Изменения | №1 от --1985-07-01 (рег. --1985-03-13) «Срок действия продлен» |