|
Характеристика
|
Значение
|
|
Номер ГОСТ
|
ГОСТ 26239.1-84
|
| Наименование |
Кремний полупроводниковый, исходные продукты для его получения и кварц. Метод определения примесей
|
| Наименование на англ. яз. |
Semiconductor silicon, raw materials for its production and quartz. Method of impurities determination
|
|
Статус ГОСТ
|
действующий
|
| Дата актуализ. текста |
15.04.2009
|
| Дата актуализ. описания |
01.05.2009
|
| Дата введения |
01.01.1986
|
| Область применения |
Настоящий стандарт устанавливает химико-атомно-эмиссионный метод определения примесей в интервалах значений массовых долей в полупроводниковом кремнии, двуокиси кремния, кварце, четуреххлористом кремнии и трихлорсилане
|
| Изменения |
№1 от --1991-01-01 (рег. --1990-06-26) «Срок действия продлен»
|
